[实用新型]沟槽MOS场效应晶体管有效
申请号: | 202021217031.X | 申请日: | 2020-06-28 |
公开(公告)号: | CN212342640U | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 陈译;陆佳顺;杨洁雯 | 申请(专利权)人: | 苏州硅能半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L27/088 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 马明渡;王健 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开一种沟槽MOS场效应晶体管,所述MOS器件包括至少2个MOS器件单胞,所述MOS器件单胞进一步包括:位于硅片下表面的重掺杂N型漏极区和位于硅片上表面的中掺杂P型基极区;所述沟槽内下部具有第二N型源极部,此沟槽内上部具有栅极部,所述第二N型源极部和栅极部与沟槽之间填充有第一氧化硅层,所述第二N型源极部和栅极部之间通过第二氧化硅层隔离;相邻所述MOS器件单胞之间的中掺杂P型基极区内具有一N掺杂深阱部,此N掺杂深阱部的上端延伸至中掺杂P型基极区的上表面。本发明沟槽MOS场效应晶体管增加耐压的情况下,将关断时将导通电阻降低。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 mos 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
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