[实用新型]一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具有效

专利信息
申请号: 202021241816.0 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN212133508U 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 王杰;戴猛;王喜涛 申请(专利权)人: 赫比(上海)金属工业有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/08
代理公司: 上海三方专利事务所(普通合伙) 31127 代理人: 吴玮
地址: 201323 上海市浦东新区祝桥镇金闻路96号2-6幢;100号*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及检测工具技术领域,具体来说是一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,第一测量座和第二测量座对称设置于定位座的两侧,定位座上设有基准平面,基准平面在设有第一测量座和第二测量座的两侧对称设有定位槽,检具底座上对应于所述的定位槽设有定位孔;第一测量座和第二测量座分别设有通孔,通孔与所述的基准平面之间的竖直高度差与产品的被测孔的要求位置相适应。本实用新型所结构简洁小巧、使用便捷,且检测周期短,在加工过程中,现场检验人员能够有效及时地通过孔位置度检具来检测孔位置度,有助于缩短检验时间、降低成本、提高现场检测的快速反应、保证产品良率,并减少因孔位置度不合格而导致的组装不良。
搜索关键词: 一种 用于 被测孔 位置 孔径 进行 检测
【主权项】:
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