[实用新型]一种三维立体封装芯片的测试模组有效
申请号: | 202021291421.1 | 申请日: | 2020-07-03 |
公开(公告)号: | CN212365924U | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 陈像;王烈洋;占连样;汤凡 | 申请(专利权)人: | 珠海欧比特电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人: | 闫有幸 |
地址: | 519000 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开一种三维立体封装芯片的测试模组,涉及印制电路板、立体封装芯片技术领域;所述测试模组包括若干个从上至下依次堆叠的叠层板、以及设置在两两相邻的两个所述叠层板之间的信号转接板;叠层板的正反两面均设置有至少一个测试点焊盘,叠层板的正面与反面的测试点焊盘一一对应短接;信号转接板的正反两面均设置有信号转接焊盘,信号转接板的正面与反面的信号转接焊盘一一对应设置,信号转接板上对应设置的正面与反面的信号转接焊盘导通或者断开;信号转接焊盘与其相对的叠层板的测试点焊盘一一对应电连接。本实用新型测试模组极大的简化了测试步骤,节省开发成本,提高叠层板的合格率、叠层板测试的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维立体 封装 芯片 测试 模组 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造