[实用新型]一种地质剖面测量装置有效

专利信息
申请号: 202021342858.3 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN212320717U 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 张洪亮;牛力功;牛廷瑞;殷成革;刘星岐;徐学飞 申请(专利权)人: 张洪亮;牛力功
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙) 31355 代理人: 丁剑
地址: 130507 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 实用新型公开了一种地质剖面测量装置,包括测量仪本体、固定套筒、伸缩块和限位环,所述测量仪本体的底端安装有固定套筒,且固定套筒内部的外壁等间距开设有通孔,所述固定套筒内部的底端设置有伸缩块,所述伸缩块的底端安装有移动块,且移动块的底端皆铰接有支撑架,所述支撑架的外壁皆开设有限位槽,所述移动块的底端等间距安装有支撑杆。该地质剖面测量装置,通过拉杆插入通孔内挤压支撑块,使得第一弹簧发生缩紧,接着将伸缩块向下拉动至合适测量高度后,将支撑块与通孔位置对齐,接着通过第一弹簧自身弹力作用下带动支撑块插入通孔内,对伸缩块的位置进行固定,该结构便于对测量仪本体的高度进行调整。
搜索关键词: 一种 地质 剖面 测量 装置
【主权项】:
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