[实用新型]一种提升QFN封装E-PAD焊接品质的结构有效

专利信息
申请号: 202021529657.4 申请日: 2020-07-28
公开(公告)号: CN212519549U 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 虞月东 申请(专利权)人: 深圳市视景达科技有限公司
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02;H05K1/11;H05K1/18
代理公司: 深圳市正德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44548 代理人: 周善勇
地址: 518000 广东省深圳市龙华*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种提升QFN封装E‑PAD焊接品质的结构,涉及QFN封装技术领域,包括PCB板,所述PCB板顶部中间设置有元件焊接区,且元件焊接区内部中间设置有PCB焊盘开槽,所述PCB焊盘开槽顶部设置有QFN封装芯片,且QFN封装芯片对角角落设置有与元件焊接区固定的红胶,所述QFN封装芯片底部中间设置有E‑PAD焊接区,且E‑PAD焊接区底部中间设置有与PCB焊盘开槽配合的E‑PAD阵列。本实用新型通过E‑PAD阵列替换整体的E‑PAD,在焊接区中间增加了空隙,从而避免了PCB焊盘开槽整体大面积焊锡区域,从根本上解决了焊锡堆积导致拱起等情况;且通过红胶高温凝固及具有粘度流动性的特点使零件牢固的粘贴于PCB表面,防止其在回流焊的过程中发生位移,避免了焊接偏移的情况出现。
搜索关键词: 一种 提升 qfn 封装 pad 焊接 品质 结构
【主权项】:
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