[实用新型]eMMC老化测试电路有效
| 申请号： | 202021558214.8 | 申请日： | 2020-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN212905071U | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/36 | 分类号： | G01R1/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 林国友 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种eMMC老化测试电路，运用于老化测试技术领域，通过短路保护电路、电压转换电路、震荡器电路和逻辑电路，还包括电源DC、电路接口J144，所述电源DC的输出端接入短路保护电路，所述短路保护电路的输出端接入电压转换电路，所述电压转换电路的输出端接入震荡器电路，所述震荡器电路的输出端接入逻辑电路，所述逻辑电路与各个测试座子连接；所述短路保护电路包括第一短路保护电路和第二短路保护电路；具备解决目前老化测试电路所不能解决的自身缺少短路保护特性，通过外围电路增加保险丝起到过流保护，发生过流后，保险丝永久性熔断，此电路永久性失效、PCB板必须根据高温老化机空间设计才能增加量产数量、局限较大的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | emmc 老化 测试 电路 | ||
【主权项】：
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