[实用新型]一种用于光学晶体的角度检验装置有效
| 申请号： | 202021577012.8 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN212620612U | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 钟进;庞寿彬;郁建科 | 申请（专利权）人： | 东莞市翔通光电技术有限公司;深圳市翔通光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 徐凯凯 |
| 地址： | 523808 广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于光学晶体的角度检验装置，其中包括定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度的范围，是否在满足合格标准，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，提高检测效率，适用于批量化检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学 晶体 角度 检验 装置 | ||
【主权项】：
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