[实用新型]用于半导体测试的定位清洁装置有效
| 申请号： | 202021591971.5 | 申请日： | 2020-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN212905020U | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 卢红平;赵云峻;张鸿;卢发生 | 申请（专利权）人： | 上海泰睿思微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26;B08B5/02 |
| 代理公司： | 上海唯源专利代理有限公司 31229 | 代理人： | 汪家瀚 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于半导体测试的定位清洁装置，包括中空结构的定位块(1)，定位块的一个面上形成有与产品结构相匹配的定位槽(11)，定位块安装在测试座(2)上，使定位槽位于测试探针(21)的上方；定位块的侧部形成有进气孔(12)并外接供气设备，定位块的另一个面上形成有面向测试探针的吹气孔(13)，进气孔、定位块的中空腔体和吹气孔形成吹气通道。本实用新型能通过定位槽对产品进行定位，确保产品引脚与测试探针的接触可靠性和精确性，同时能在产品测试间隙通过吹气通道对测试探针上的脏污进行吹扫清洁，确保连续、有效生产，避免测试探针频繁清洗的问题，减少降低维护时间，提高测试良率和生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 测试 定位 清洁 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海泰睿思微电子有限公司，未经上海泰睿思微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202021591971.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种激光焊接架
- 下一篇：一种托盘形叠层双NANO SIM卡座
