[实用新型]一种防止电压漂移的校准设备有效
| 申请号： | 202021681140.7 | 申请日： | 2020-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN213240399U | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 王晓明;武斌 | 申请（专利权）人： | 芯河半导体科技（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区菱*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种防止电压漂移的校准设备，包括测试治具主体，所述测试治具主体设有MCU、多个GPIO、主测试板、光开关、OLT下行光接入光口、升压电路、限放电路以及电源，所述MCU通过GPIO连接到光开关，光开关通过光纤OLT下行光接入光口连通，OLT下行光接入光口连接有RX光源，光开关还与待测BOSA组件连通。本实用新型在测试治具上添加OLT下行光接入光口，使得在进行APD测试前，先对BOSA组件进行通大光老化实验，在生产阶段就进行老化测试，能够有效防止现网使用接入OLT下行光引起的VBR电压漂移现象，避免ONU设备灵敏度劣化甚至不能使用的困境，提高了BOSA的良品率以及可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 防止 电压 漂移 校准 设备 | ||
【主权项】：
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