[实用新型]存储器单粒子测试板及系统有效

专利信息
申请号: 202021835690.X 申请日: 2020-08-28
公开(公告)号: CN213583124U 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 颜军;陈像;颜志宇;龚永红;王烈洋;占连样;蒲光明;陈伙立;骆征兵 申请(专利权)人: 珠海欧比特宇航科技股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 郑晨鸣
地址: 519080 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种存储器单粒子测试板及系统,其中存储器单粒子测试板包括测试子板及测试母板。测试子板包括第一连接器,第一连接器与开封后的存储器电性连接。测试母板包括FPGA芯片、电源及第二连接器,第二连接器与第一连接器匹配,FPGA芯片及电源与第二连接器电性连接,电源与FPGA芯片电性连接,FPGA芯片及电源可以通过第二连接器及第一连接器与存储器电性连接。根据上述技术方案的存储器单粒子测试板,利用FPGA芯片的可编程及可重复配置的特点,可以适应不同型号及不同位宽的存储器,同时还可以简化电路结构,降低电路板尺寸,降低开发成本,易于满足实验室要求。
搜索关键词: 存储器 粒子 测试 系统
【主权项】:
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