[实用新型]一种用于电子元器件测试的装置有效
| 申请号： | 202022017597.4 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN213517353U | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 林泽清;潘甲东;谢艺精 | 申请（专利权）人： | 福建毫米电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/64 |
| 代理公司： | 泉州君典专利代理事务所(普通合伙) 35239 | 代理人： | 宋艳梅 |
| 地址： | 362000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于电子元器件测试的装置，包括外罩、设置在外罩内的底板、竖直设置在底板上的挡板、设置在挡板前侧的若干放置槽、可拆卸地设置在放置槽内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板垂直布置地设置在放置槽内。本实用新型能够消除测试过程中外部不利因素的影响，保证试验结果的准确性，且通用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子元器件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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