[实用新型]一种T/R阵列自动测试系统校准套件及测试系统有效
申请号: | 202022027176.X | 申请日: | 2020-09-16 |
公开(公告)号: | CN212569116U | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 韩周安;彭安虎;彭毅;张文权 | 申请(专利权)人: | 成都爱科特科技发展有限公司 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
地址: | 610000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种T/R阵列自动测试系统校准套件及测试系统,包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块,所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头,通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。本实用新型可很大程度的提升T/R阵列自动测试系统的校准精度和校准效率,可满足在大规模T/R阵列自动测试系统中的校准要求;区别于目前矢量网络分析仪厂商提供的高精密校准工具箱,对加工工艺有极大要求,本实用新型所需标准件的加工工艺能满足一般的工程化实现。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 自动 测试 系统 校准 套件 | ||
【主权项】:
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