[实用新型]测试电路及芯片电路测试装置有效
| 申请号： | 202022137412.3 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN213457239U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 杨九如;王春来;李诚建 | 申请（专利权）人： | 深圳市麦积电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人： | 陈琳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片电路测试领域，具体涉及一种测试电路，用于对芯片电路进行测试，其包括：按键单元、第一单片机、第二单片机、第三单片机和显示单元，按键单元用于产生按键动作；第一单片机与按键单元连接，第一单片机用于响应按键单元的按键动作以选择测试项目；第二单片机用于与芯片电路连接，且与第一单片机连接，第二单片机根据测试项目控制芯片电路进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，其中，当功能测试结果异常时生成故障信息；第三单片机与第二单片机连接，用于接收故障信息；显示单元与第三单片机连接，用于显示故障信息。本测试电路可以完成芯片电路的功能测试，且简单易用，成本低，有效的降低了对芯片电路进行功能测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 芯片 装置 | ||
【主权项】：
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