[实用新型]一种超高精密芯片测试探针装置

摘要

本实用新型公开了一种超高精密芯片测试探针装置，主要包括外框、卡架、滑头、压架和环架，所述外框前侧设置有装配槽，所述外框位于装配槽处固定安装有内壳，内壳内侧后部固定安装有线路板，所述内壳内侧前部贯穿嵌设固定安装有滑套，滑套前侧内部滑动安装有滑头，所述滑套和滑头之间固定连接有弹簧，所述滑套后侧壁与线路板前侧壁固定连接，所述外框内侧上部贯穿固定安装有接电插头，所述外框前侧边缘处固定安装有对称设置的限位凸沿，限位凸沿围设空间与内壳位置一致。本实用新型在结构上设计合理，压接受力均匀，芯片不容易倾斜，保证接触良好，避免虚接，使用起来方便快捷，拆装快捷，实用性很高。