[实用新型]一种电子元器件测试设备有效
申请号: | 202022232231.9 | 申请日: | 2020-10-09 |
公开(公告)号: | CN213581233U | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 李成寿 | 申请(专利权)人: | 深圳市万泽科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 广东有知猫知识产权代理有限公司 44681 | 代理人: | 程文栋 |
地址: | 518118 广东省深圳市坪山区坑梓街道沙田*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电子元器件测试设备,包括测试本体,所述测试本体的上表面固定连接有箱体,所述箱体的上表面固定镶嵌有第一轴承,所述测试本体的上表面固定连接有支撑板,所述支撑板的正面固定连接有放置板,所述放置板的上表面开设有等距离排列的通孔,所述箱体的上表面固定连接有第一测试板,所述第一测试板的背面与支撑板的正面固定连接。本实用新型中,通过利用转杆的旋转带动第二齿轮旋转,紧接着使第二齿轮带动第一齿轮转动,并且使螺纹杆利用第一齿轮的转动带动滑板向下移动,同时推动第二测试板与二极管相接触,便于工作人员对二极管进行测试,避免对二极管进行测试时出现抖动,以及避免二极管测试结果出现误差的现象。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子元器件 测试 设备 | ||
【主权项】:
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