[实用新型]一种电子元器件测试设备有效

专利信息
申请号: 202022232231.9 申请日: 2020-10-09
公开(公告)号: CN213581233U 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 李成寿 申请(专利权)人: 深圳市万泽科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 广东有知猫知识产权代理有限公司 44681 代理人: 程文栋
地址: 518118 广东省深圳市坪山区坑梓街道沙田*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种电子元器件测试设备,包括测试本体,所述测试本体的上表面固定连接有箱体,所述箱体的上表面固定镶嵌有第一轴承,所述测试本体的上表面固定连接有支撑板,所述支撑板的正面固定连接有放置板,所述放置板的上表面开设有等距离排列的通孔,所述箱体的上表面固定连接有第一测试板,所述第一测试板的背面与支撑板的正面固定连接。本实用新型中,通过利用转杆的旋转带动第二齿轮旋转,紧接着使第二齿轮带动第一齿轮转动,并且使螺纹杆利用第一齿轮的转动带动滑板向下移动,同时推动第二测试板与二极管相接触,便于工作人员对二极管进行测试,避免对二极管进行测试时出现抖动,以及避免二极管测试结果出现误差的现象。
搜索关键词: 一种 电子元器件 测试 设备
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