[实用新型]一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置有效
| 申请号： | 202022261219.0 | 申请日： | 2020-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN213456710U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 姜建峰 | 申请（专利权）人： | 赫得纳米科技(昆山)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置，涉及检测装置技术领域。本实用新型的结构包括箱体、支架、条板、暗箱、发射模块、接收模块，所述箱体顶侧壁凹槽内设置有一号传送装置和二号传送装置，所述支架和暗箱的底端固定在箱体顶侧壁上，所述支架后侧壁上固定右一号电机，所述一号电机前端固定有二号丝杆，所述一号丝杆上两个移动块下各固定一个条板，所述暗箱间隙空间内各设置有两个隔光门，两个隔光门顶端通过连接杆固定，所述暗箱顶壁内的二号电动推杆底端与连接杆固定，所述发射模块固定在暗箱间隙后侧壁凹槽内，所述接收模块设置在暗箱间隙空间前侧壁凹槽内。本实用新型可将ITO膜准确送入检测位置上，且避免外部光源干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 触摸屏 ito 平度 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】：
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