[实用新型]一种薄膜热电材料性能参数测试装置及系统有效
| 申请号： | 202022270079.3 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN213337417U | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 狄重安;金文龙;赵文瑞;邹业;张凤娇;孟青;代小娟;朱道本 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01N27/04 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 姚东华 |
| 地址： | 100190 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于薄膜热电材料性能参数测试的装置及系统，用于解决传统热电性能参数测试方法操作复杂、测试速度慢、测试精确度低、并难以满足大量薄膜热电材料性能参数的快速简易测试的问题，所述装置包括：自下而上设置的基础温度控制单元和温度差控制单元；所述基础温度控制单元用于控制待测样品所处的基础温度；所述温度差控制单元用于控制所述待测样品两端的温度差。本实用新型提供的技术方案能够简便、快速、精确地测试薄膜热电材料热电性能参数且能够自动处理的薄膜热电材料热电性能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 热电 材料 性能参数 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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