[实用新型]一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座

摘要

本实用新型公开了一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括座体，所述座体下端固定安装有多个固定块，且每个固定块上均设有伸缩槽，每个所述伸缩槽内均滑动连接有伸缩块，且每个伸缩块与对应的伸缩槽之间均安装有弹簧，每个所述伸缩块下端均固定安装有放置板，所述座体内设有容纳槽，且容纳槽内放置有控制板，所述控制板下端均匀设有多个凹槽，且每个凹槽内均滚动安装有滚珠，所述控制板与每个伸缩块之间均安装有调节机构。优点在于：本实用新型测试插座在平整度不一的放置面，可自动进行调节，保持水平状态，从而确保测试结果的准确度，且该操作无需人工操作，使用方便。