[实用新型]一种光学结构电磁屏蔽窗口及检测控制系统有效

专利信息
申请号: 202022307454.7 申请日: 2020-10-14
公开(公告)号: CN213545019U 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 吴朔;胡俊华;王俊;肖冬萍;甘彤 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: G03B17/17 分类号: G03B17/17;G02B23/08;G02B7/182;G02B5/08;H05K9/00
代理公司: 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 代理人: 王瑞
地址: 230000 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开一种光学结构电磁屏蔽窗口及检测控制系统,包括金属壳体、入射窗口、前反射镜、后反射镜、电磁出射窗口、光束出射窗口,前反射镜和后反射镜均设置在金属壳体内,入射窗口和电磁出射窗口对应设置,且前反射镜设置在入射窗口和电磁出射窗口之间,后反射镜对应前反射镜设置,光束出射窗口对应后反射镜设置;入射窗口为入射电磁波束和入射光束的入口,电磁出射窗口为入射电磁波束的出射窗口,光束出射窗口为入射光束的出射窗口;本实用新型将红外与可见光的光路通过光学反射镜折叠,在不影响成像质量的情况下防止电磁波通过窗口进入设备内部造成干扰及损坏,可以被广泛的应用于强电磁环境的诸多场景。
搜索关键词: 一种 光学 结构 电磁 屏蔽 窗口 检测 控制系统
【主权项】:
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