[实用新型]晶圆刻蚀装置和晶圆处理设备有效

专利信息
申请号: 202022351143.0 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN213093176U 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 王建东;徐融;任德营;苏界;顾立勋 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供一种晶圆刻蚀装置和晶圆处理设备,晶圆刻蚀装置包括刻蚀槽和气体输入件,刻蚀槽包括底壁和多个侧壁,多个侧壁围合底壁而形成容纳空间,容纳空间用于容置刻蚀液和晶圆;气体输入件包括相互连通的进气部和出气部,进气部用于向出气部输入气体,出气部位于容纳空间内,出气部开设有背向底壁的多个出气孔,出气部的延伸方向为第一方向,在远离进气部的第一方向上,多个出气孔的孔径逐渐增大。通过设置在远离进气部的第一方向上,多个出气孔的孔径逐渐增大,逐渐增大的孔径可以对末端出气孔的流量不足作出补偿,化学均匀性较高,使得不同位置的晶圆的刻蚀程度相同,同时反应副产物的扩散效率较高,不容易堆积于蚀刻槽,降低了残留风险。
搜索关键词: 刻蚀 装置 处理 设备
【主权项】:
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