[实用新型]芯片电性能测试平台有效
| 申请号： | 202022441076.1 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN213398824U | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 李崇万 | 申请（专利权）人： | 德欧泰克半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海助之鑫知识产权代理有限公司 31328 | 代理人： | 吴红艳 |
| 地址： | 201505 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了芯片电性能测试平台，包括由顶板、左侧板和右侧板组成的底座；底座的左侧板或者右侧板上设置有若干个通孔；所述底座的左侧板或者右侧板上安装有插座，插座连接有插头，插头通过导线连接有测试仪器；所述插座与插头之间设置有紧固装置；所述测试件安装在底座内且连接插座。本实用新型设计合理，解放了双手，大大增加了检测效率，也保证检测的效果，而且本实用新型加工简单，成本低，是一种理想的检测辅助设备。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 性能 测试 平台 | ||
【主权项】：
暂无信息
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