[实用新型]一种可调节高度的带刻度直角尺测量结构有效

专利信息
申请号: 202022523986.4 申请日: 2020-11-04
公开(公告)号: CN213932252U 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 彭侠 申请(专利权)人: 帕恩检测技术(杭州)有限公司
主分类号: G01B3/04 分类号: G01B3/04;G01B5/245
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311100 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种可调节高度的带刻度直角尺测量结构,包括立杆、尺架、整平架,所述立杆包括第一立杆、第二立杆、第三立杆,所述立杆底部设有踏板,所述立杆底端均设有圆锥形杆脚且尖部朝下,所述尺架与整平架均为L型结构且角点与两个端点均设有与立杆配合滑动连接的套管,所述套管侧面设有螺纹孔,所述螺纹孔内设有限位螺钉,所述螺纹孔与限位螺钉旋转连接,所述尺架的套管为第一套管,所述整平架的套管为第二套管,所述整平架上表面设有气泡水平仪。本实用新型设置了整平架与气泡水平仪,通过调节三根立杆并观察气泡位置,对本测量结构进行整平,保证尺架始终保持在水平状态。
搜索关键词: 一种 调节 高度 刻度 直角尺 测量 结构
【主权项】:
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