[实用新型]一种可调节高度的带刻度直角尺测量结构有效
申请号: | 202022523986.4 | 申请日: | 2020-11-04 |
公开(公告)号: | CN213932252U | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 彭侠 | 申请(专利权)人: | 帕恩检测技术(杭州)有限公司 |
主分类号: | G01B3/04 | 分类号: | G01B3/04;G01B5/245 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 311100 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种可调节高度的带刻度直角尺测量结构,包括立杆、尺架、整平架,所述立杆包括第一立杆、第二立杆、第三立杆,所述立杆底部设有踏板,所述立杆底端均设有圆锥形杆脚且尖部朝下,所述尺架与整平架均为L型结构且角点与两个端点均设有与立杆配合滑动连接的套管,所述套管侧面设有螺纹孔,所述螺纹孔内设有限位螺钉,所述螺纹孔与限位螺钉旋转连接,所述尺架的套管为第一套管,所述整平架的套管为第二套管,所述整平架上表面设有气泡水平仪。本实用新型设置了整平架与气泡水平仪,通过调节三根立杆并观察气泡位置,对本测量结构进行整平,保证尺架始终保持在水平状态。 | ||
搜索关键词: | 一种 调节 高度 刻度 直角尺 测量 结构 | ||
【主权项】:
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