[实用新型]用于粒子加速器真空结构材料的低温二次电子测试样品架有效

专利信息
申请号: 202022579119.2 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN213633236U 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 方键威;王勇;洪远志;尉伟;朱邦乐;王一刚;卞抱元 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01N23/2204 分类号: G01N23/2204;G01R19/00;G01R15/24
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型涉及一种用于粒子加速器真空结构材料的低温二次电子测试样品架,包括:样品、样品座、样品底板、压片、绝缘垫、法拉第筒、螺钉、塞块、低温冷屏、螺栓、固定板、过渡管、陶瓷管和液氦输液管;本实用新型兼顾超高真空和二次电子测试的前提下(本实用新型用于10‑8Pa超高真空环境下,兼顾二次电子测试的条件下),设计独特样品架结构使液氦流进样品座内部,实现样品4.7K低温,完成低温二次电子测试,同时本实用新型设计结构巧妙,操作简单,攻克导热、超高真空、电绝缘彼此限制。
搜索关键词: 用于 粒子 加速器 真空 结构 材料 低温 二次电子 测试 样品
【主权项】:
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