[实用新型]一种新型设备测试治具有效
申请号: | 202022641803.9 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN213457252U | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 苏军梅 | 申请(专利权)人: | 苏州市高威电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/073 |
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地址: | 215311 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种新型设备测试治具,包括固定架和翻转机构,所述固定架的内侧设置有对位机构,且对位机构的外侧设置有针盘,同时针盘与探针配合安装,所述探针的外侧设置有聚对二甲苯膜,所述固定架的外侧设置有支撑架,所述翻转机构设置在支撑架的内侧,且支撑架的内侧开设有活动槽,同时活动槽与滑轮配合安装,所述滑轮的外侧设置有连接块,且连接块的内侧开设有卡槽,同时卡槽与卡块配合安装。该新型设备测试治具,通过对位机构的设置,在对位机构各零件之间相互的配合的作用下,通过治具测试面板感应点,在调试参数设置感应点坐标,达到单颗自动光学对位,提高测试精准度,大大降低了误测率。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 设备 测试 | ||
【主权项】:
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