[实用新型]一种三点弯曲挠度测量装置有效

专利信息
申请号: 202022729323.8 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN213779749U 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 侯文韬;李丹;孟智超;李述军;张金虎;郝玉琳 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/02;G01B21/32
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 代理人: 张志伟
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型涉及一种机械装置,更具体涉及一种三点弯曲挠度测量装置,主要用于在三点弯曲试验中动态测量试样的挠度。该装置包括弯曲压头、底座、引伸计、测距支架,具体结构如下:弯曲压头为固定杆、压头的上下组合结构,测距支架为凹形支架、螺纹杆的上下组合结构,凹形底座的底面开设螺纹孔,螺纹杆与所述螺纹孔呈螺纹连接;螺纹杆的上端与凹形支架的底面连接,凹形支架的两侧顶部对称开设与引伸计一端对应的支架45°刀口,压头底部尖端两侧对称开设与引伸计另一端对应的压头45°刀口。本实用新型整体结构简单,相比传统三点弯曲装置可以通过压头下压的距离测量试样的挠度,从而达到输出试样实时挠度的目的。
搜索关键词: 一种 弯曲 挠度 测量 装置
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