[实用新型]一种超声波测厚仪有效

专利信息
申请号: 202022745752.4 申请日: 2020-11-24
公开(公告)号: CN213714245U 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 刘铁苗;程燕楠;解志宏;任文涛;尉龙;陶涛;王尚禹;杨冰;董振军;孟兆祥;郝斌;李诗楠;陈斐然 申请(专利权)人: 北方魏家峁煤电有限责任公司
主分类号: G01B17/02 分类号: G01B17/02
代理公司: 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 代理人: 王献茹
地址: 010499 内蒙古自治*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: 本申请涉及一种超声波测厚仪,包括主机和探测头,所述主机与所述探测头之间通过探测导线连接;还包括:耦合剂容器,固定设置于所述主机的外壳上,用于存储耦合剂;耦合剂涂抹装置,设置在所述探测头上,所述耦合剂涂抹装置与所述耦合剂容器通过耦合剂输送管连接;耦合剂输送装置,设置在所述耦合剂容器中,用于将耦合剂输送到所述耦合剂涂抹装置中。本申请的测厚仪在主机上增加了耦合剂容器,可以存放部分耦合剂,用完可以补充耦合剂,不需要时刻携带耦合剂瓶;耦合剂输送装置与耦合剂涂抹装置配合使用,能够方便地将将耦合剂均匀涂抹到探测头表面处,无需再人工涂抹耦合剂,操作方便。
搜索关键词: 一种 超声波 测厚仪
【主权项】:
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