[实用新型]用于电池片的光衰测试机有效
| 申请号： | 202022988135.7 | 申请日： | 2020-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN213583704U | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 崔水炜;程建;万肇勇;吴章平 | 申请（专利权）人： | 苏州昊建自动化系统有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/677;H01L21/67 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 丰叶 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州相*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了用于电池片的光衰测试机，包括工作箱，工作箱内设置有若干检测工位，检测工位上设置有检测装置。工作箱内还设置有与每个工位对应的上下料机构，一个上下料机构包括设置在工作箱内的上料盒、下料盒和移动装置，检测装置设置在上料盒和下料盒之间，移动装置用于将电池片在上料盒、检测装置和下料盒之间移动，移动装置包括丝杆驱动组件和吸附组件，吸附组件与丝杆驱动组件固结并在丝杆驱动组件驱动下在上料盒和下料盒之间移动。整个检测过程避免人工接触电池片，减少对电池片的污染和损坏。且多个工位可对多个电池片进行同步检测，且能根据需要布置不同的检测装置，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电池 测试 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
