[实用新型]一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机有效
| 申请号： | 202023101665.1 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN214097225U | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 乔森 | 申请（专利权）人： | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G05D23/19 |
| 代理公司： | 南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145 | 代理人： | 刘林艳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，涉及电子元件技术领域。本实用新型包括基板和测试箱，测试箱位于基板上表面，测试箱内部设置有冷测试仓和热测试仓，冷测试仓与热测试仓之间设置有真空层，真空层内部设置有保温板，冷测试仓内表面安装有制冷机构，冷测试仓内部设置有隔冷板，制冷机构输出端安装有导冷管，冷测试仓一侧面设置有若干散冷槽，热测试仓内表面安装有制热机构，热测试仓内部设置有隔热板。本实用新型通过设置冷测试仓、热测试仓、真空层和保温板，使该装置的制冷机构和制热机构温度不受彼此影响，不易出现温度错乱的情况，测试更加准确，具有良好的推广前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 电子元件 冷热 冲击 试验 | ||
【主权项】：
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