[实用新型]用于超细纳米颗粒制取的大颗粒初步研磨设备有效

专利信息
申请号: 202023105365.0 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN214320428U 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 徐鑫;任登科 申请(专利权)人: 六安职业技术学院
主分类号: B02C19/00 分类号: B02C19/00;B02C19/22;B02C23/16
代理公司: 北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588 代理人: 国红
地址: 237000 安徽省六*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公布了用于超细纳米颗粒制取的大颗粒初步研磨设备,其包括机架,机架上安装有一级研磨装置、二级研磨装置,颗粒原料进入至一级研磨装置并由一级研磨装置完成第一次研磨,由一级研磨装置研磨后的颗粒原料流向二级研磨装置并由二级研磨装置对颗粒原料进行第二次研磨;一级研磨装置包括与机架固定连接并且呈倾斜方向布置的机壳,中心轴上设置有多个沿中心轴轴线方向间隔布置的研磨组件,研磨组件包括多个沿中心轴圆周方向等间距布置的连接轴,连接轴一端与中心轴固定连接、另一端铰接有研磨轴,连接轴与研磨轴铰接处构成的铰接轴轴线方向与中心轴的中心轴线相平行,一级研磨装置还包括固定于机架研磨轴的悬置端活动连接有研磨球。
搜索关键词: 用于 纳米 颗粒 制取 初步 研磨 设备
【主权项】:
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