[实用新型]物位测量装置有效

专利信息
申请号: 202023224634.5 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN213842309U 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 呼秀山;夏阳 申请(专利权)人: 北京锐达仪表有限公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284
代理公司: 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 代理人: 韩德凯;李伟波
地址: 100744 北京市通州区中关村科技*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开提供了一种物位测量装置,包括:射频装置,射频装置能够产生用于对被测对象进行物位测量的微波信号;天线装置,天线装置发射射频装置产生的微波信号至被测对象,以及天线装置接收被被测对象反射的微波信号而形成的回波信号;微波透镜,微波透镜对天线装置发射的微波进行会聚,以及微波透镜对回波进行会聚以使得回波被天线装置接收;以及第一壳体,射频装置以及天线装置均设置在第一壳体内,微波透镜的至少一部分设置在第一壳体内。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京锐达仪表有限公司,未经北京锐达仪表有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202023224634.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top