[外观设计]用于电脑的存储器辐射效应测试图形用户界面有效

专利信息
申请号: 202030678133.0 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN306451184S 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 杜川华 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: 14-02 分类号: 14-02
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 康拯通
地址: 621900 四*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 1.本外观设计产品的名称:用于电脑的存储器辐射效应测试图形用户界面。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于存储器辐射效应测试系统的程序及应用。3.本外观设计产品的设计要点:在于屏幕中图形用户界面的内容。4.最能表明设计要点的图片或照片:界面变化状态图1。5.本外观设计要点在于界面的交互设计,后视图、左视图、右视图、仰视图、俯视图为惯常设计,省略后视图、左视图、右视图、仰视图、俯视图。6.图形用户界面的用途:主视图界面为软件进入的初始化界面,初始化界面完成后就进入到界面变化状态图1;界面变化状态图1可设置串口号、芯片类型和芯片型号,数据类型选择(给定数可通过键盘输入任意16进制数),测试选项选择,写入数据和读出数据操作,操作日志栏根据相应的操作自动显示操作内容和操作状态。设置完各类参数点击“写入数据”变化到界面变化状态图2;界面变化状态图2为正在写入数据状态,显示写入进度、操作日志、显示写入状态和写入时间,完成后变化到界面变化状态图3;界面变化状态图3为写入数据完成界面,点击“读出数据”变化到界面变化状态图4;界面变化状态图4为读出数据界面,显示读出数据进度、操作日志、读出正确或者错误,完成后变化到界面变化状态图5;界面变化状态图5通过方格图显示所有存储单元读出数据的情况。测试选项选择“单片机测试”变化到界面变化状态图6单片机测试模式;测试选项选择“单字节测试”变化到界面变化状态图7单字节测试模式;测试选项选择“区域测试”变化到界面变化状态图8区域测试模式;界面变化状态图8中设置好参数点击“写入数据”变化到界面变化状态图9;界面变化状态图9为写入数据状态,完成后变化到界面变化状态图10;界面变化状态图10为数据写入完成状态,点击“读出数据”变化到界面变化状态图11;界面变化状态图11为正在读取数据状态,完成后变化到界面变化状态图12;界面变化状态图12为完成读出数据,点击“停止测试”变化到界面变化状态图13;界面变化状态图13为停止测试界面,一次完整的写入和读出数据结束后,点击主界面上“工具——测试报表”,弹出界面变化状态图14;界面变化状态图14为生成的测试报表界面,显示测试的完整信息。
搜索关键词: 用于 电脑 存储器 辐射 效应 测试 图形 用户界面
【主权项】:
暂无信息
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