[发明专利]半导体装置和其制造方法在审
申请号: | 202080000993.6 | 申请日: | 2020-03-25 |
公开(公告)号: | CN111771285A | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
发明(设计)人: | 黄敬源 | 申请(专利权)人: | 英诺赛科(珠海)科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/778;H01L21/28;H01L21/335 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王允方 |
地址: | 519085 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种半导体装置包含衬底(10)、安置于所述衬底(10)上的沟道层(12),以及安置于所述沟道层(12)上的势垒层(14)。所述半导体装置另外包含安置于所述势垒层(14)上并且界定暴露所述势垒层(14)的一部分的第一凹部的介电层(16)。所述半导体装置另外包含安置于所述第一凹部内的第一间隔件(18a),其中所述第一间隔件(18a)包括使所述介电层(16)横向连接到所述势垒层(14)的表面(14i)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
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