[发明专利]用于基于像素测序的表征和性能分析的系统和设备在审
| 申请号： | 202080003540.9 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN112368567A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | E·科斯特姆 | 申请（专利权）人： | 因美纳有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;C12Q1/6874;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种根据测量强度确定标记信号的方法，该测量强度是由光传感器在指向样本表面(234)的传感器阵列中收集的光传感器(206、208、210、212、214)收集的，该样本表面(234)包括像素区域(206’、208’、210’、212’、214’)并在一系列采样事件期间容纳多个簇(206A、206、208A、208B、210A、210B、212A、212B、214A、214B)，每个光传感器(206、208、210、212、214)在每个采样周期期间指向所述像素区域(206’、208’、210’、212’、214’)中的一个并测量来自所述像素区域中的一个的强度，该方法包括对背景强度(675)和串扰(645)的调整，并考虑了信号衰减(625)和定相(623)/预定相。通过由系统进行真值碱基调用或使用经系统运行的良好采样的可靠碱基调用，调整系数可以通过梯度下降来确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 基于 像素 表征 性能 分析 系统 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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