[发明专利]一种衬底加工方法及半导体器件制造方法有效

专利信息
申请号: 202080004967.0 申请日: 2020-07-10
公开(公告)号: CN112689886B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 李瑞评;曾柏翔;张佳浩;刘增伟;陈铭欣 申请(专利权)人: 福建晶安光电有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/67
代理公司: 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 代理人: 高园园
地址: 362411 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种衬底加工方法以及半导体器件制造方法,衬底加工过程中,自晶棒切割得到多个衬底之后,对衬底的表面进行处理,可以是衬底的单面或者双面,然后对衬底进行退火。在退火过程中,在催化剂的作用下,表面处理剂中的软化剂与衬底发生反应,形成一层较软材料的改性层,该改性层为疏松结构,起到软化衬底的作用,降低了衬底表面的硬度。在后续的研磨及抛光过程中,能够显著提高研磨和抛光效率,降低衬底的加工难度。通过调整退火工序的温度及时间,控制表面处理剂与衬底的反应程度,控制被软化的衬底的厚度,进而降低后续机械加工的难度,提高衬底的加工质量。
搜索关键词: 一种 衬底 加工 方法 半导体器件 制造
【主权项】:
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