[发明专利]物理量检测装置在审
| 申请号： | 202080006305.7 | 申请日： | 2020-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN113597537A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 广畑成人;上之段晓;五来信章;三木崇裕;八文字望 | 申请（专利权）人： | 日立安斯泰莫株式会社 |
| 主分类号： | G01F1/684 | 分类号： | G01F1/684 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明获得一种能够同时实现刚性提高和密闭性提高的物理量检测装置。本发明的物理量检测装置(20)的特征在于，包括：外壳(100)、盖体(200)、芯片封装件(310)、以及被芯片封装件支承并配置在副通道上的流量传感器(311)，外壳具有：第1粘接剂用槽(160A)，其是涂敷用于粘接盖体的粘接剂的粘接剂用槽，沿着外壳的基端延伸且从外壳的基端沿着外壳的突出方向延伸到相较于芯片封装件而言靠外壳的顶端侧的位置，涂敷第1粘接剂(401)；以及第2粘接剂用槽(160B)，其沿着副通道(134)延伸，涂敷第2粘接剂(402)，第1粘接剂的杨氏模量高，第2粘接剂的触变性高。 | ||
| 搜索关键词： | 物理量 检测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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