[发明专利]在X射线锥形束计算机断层扫描中校准X射线投影几何形状的方法在审

专利信息
申请号: 202080007291.0 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN113226181A 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: S·莫尔;S·温达克 申请(专利权)人: 登士柏希罗纳有限公司;希罗纳牙科系统有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/12;A61B6/14;A61B6/03
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 高文静
地址: 美国宾*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种在X射线锥形束计算机断层扫描中进行X射线投影几何形状校准的方法,该方法包括:至少一个步骤(S1):获得通过围绕物体(3)相对旋转检测器和向检测器投影X射线的X射线源生成的物体(3)的至少一部分的二维X射线图像(1)或正弦图(2);其特征在于还包括:至少一个步骤(S4):通过使用经训练的人工智能算法在二维X射线图像(1)或正弦图(2)中检测物体(3)的至少一个特征(3a);以及至少一个步骤(S5):基于检测创建限定X射线投影的几何形状的校准信息。
搜索关键词: 射线 锥形 计算机 断层 扫描 校准 投影 几何 形状 方法
【主权项】:
暂无信息
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