[发明专利]测量装置及测量方法有效
申请号: | 202080009133.9 | 申请日: | 2020-01-23 |
公开(公告)号: | CN113287038B | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 大岛伸一;伊势居良仁 | 申请(专利权)人: | 日本制铁株式会社 |
主分类号: | G01S17/58 | 分类号: | G01S17/58 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 高迪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种即使被测量对象物移动也能够正确地测量被测量对象物的相对的移动速度或被测量对象物的相离位移的测量装置及测量方法。在测量装置(1)中,由于能够考虑被测量对象物(P)向面内方向移动而发生的多普勒频移的影响来测量被测量对象物(P)的相对的移动速度、被测量对象物(P)的相离位移,所以即使被测量对象物(P)向面内方向移动,也能够正确地测量被测量对象物(P)的相对的移动速度及被测量对象物(P)的相离位移。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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