[发明专利]对用于金属杂质识别的天线系统进行功能检验的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于对天线系统进行功能检验的设备，所述天线系统尤其是用于金属杂质识别，所述设备包括具有多个天线（A0，...，A31）的天线系统，所述天线与选择单元（SE）的所分配的输入端接线。多个天线（A0，...，A31）的第一天线组的天线（A0，...，A15）与选择单元（SE）的第一复用器（MUXa）的输入端接线。多个天线（A0，...，A31）的第二天线组的天线（A16，...，A31）与选择单元（SE）的第二复用器（MUXb）的输入端接线。第一天线组的天线（A0，...，A15）和第二天线组的天线（A16，...，A31）相邻地和/或成对重叠地布置。计算单元（CU）被构造用于通过为选择单元（SE）提供控制信号（CTRL_MUX_I，CTRL_MUX_II，CTRL_MUX_III，CTRL_DIAG）来将交流信号馈入到第一天线组的所选择的天线（A0，...，A15）中，并且在选择单元（SE）的输出端（SEO）处针对第一天线组的所选择的天线（A0，...，A15）检测在第二天线组的每一个天线（A16，...，A31）处施加的天线信号，并且对其进行存储用于随后评估。从针对第一天线系统的所选择的天线（A0，...，A15）的所确定的天线信号和所分配的预期的天线信号的比较中可以推断出所选择的天线/天线系统的差错。