[发明专利]荧光显微镜检查系统、设备和方法在审
| 申请号： | 202080013058.3 | 申请日： | 2020-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN113412613A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 马修·C·普特曼;约翰·B·普特曼;瓦迪姆·潘斯基;丹尼斯·沙鲁霍夫 | 申请（专利权）人： | 纳米电子成像有限公司 |
| 主分类号： | H04N7/18 | 分类号： | H04N7/18;G02B21/16;G02B21/12;G02B21/10;G02B21/36;G06K9/00;H04N5/247;G02B21/18;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杨媛媛 |
| 地址： | 美国俄亥俄州库亚霍*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种荧光显微镜检查系统包括能够发射使样本发荧光的光和使样本不发荧光的光的光源。所发射的光通过一个或更多个滤光器和物镜通道被朝向样本定向。灯环通过暗场通道以倾斜角度将光投射在样本上。滤光器之一可以修改光以匹配与样本相关联的预定带隙能量，并且另一滤光器可以过滤从样本反射并且到相机的光的波长。相机可以根据所接收的光产生图像，并且可以对图像执行样本分类和特征分析。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光显微镜 检查 系统 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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