[发明专利]用于检查工件的质量的方法和计算装置有效

专利信息
申请号: 202080014527.3 申请日: 2020-02-12
公开(公告)号: CN113424019B 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 阿德尔·哈加尼 申请(专利权)人: 西门子股份公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30;G01N19/08
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张英
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于检查工件(2)的质量的方法,该方法具有步骤:接收确定的第一测量信号,其中,为了确定在预定的时间点的第一测量信号,沿工件(2)检测描述工件(2)的外部尺寸的测量值,提供参考测量信号,其中,参考测量信号描述参考工件的第二测量信号,根据第一测量信号与参考测量信号之间的区别确定差分信号(D),其中,确定差分信号(D)的频谱,检查是否在频谱中存在至少一个预定的振荡(7),并且根据至少一个预定的振荡(7)的存在检查工件(2)的质量,预设多个频率范围,并且分别对于多个频率范围确定差分信号(D)的频谱,并且其中,对于参考测量信号确定频谱,并且根据参考测量信号的频谱对于相应的频率范围确定允许的范围。
搜索关键词: 用于 检查 工件 质量 方法 计算 装置
【主权项】:
暂无信息
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