[发明专利]粒子分离计测器件以及粒子分离计测装置在审

专利信息
申请号: 202080014966.4 申请日: 2020-02-25
公开(公告)号: CN113454437A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 米田将史 申请(专利权)人: 京瓷株式会社
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;B03B5/00;G01N33/48;G01N37/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王晖
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开的粒子分离计测器件(1)具备:第一流路器件(2),具有使包括分离对象的粒子第一流体流出的分离后流出口(13);以及第二流路器件(3),载置第一流路器件(2),具有第一流体流入的第一流入口(23)。在下表面配置有分离后流出口(13)的第一流路器件(2)载置于在第一区域(21)的上表面配置有第一流入口(23)的第二流路器件(3),分离后流出口(13)和第一流入口(23)对置地连接。而且,第一流入口(23)的开口的大小大于分离后流出口(13)的开口的大小,分离后流出口(13)的开口位于靠第一流入口(23)的开口外周的位置地连接。
搜索关键词: 粒子 分离 器件 以及 装置
【主权项】:
暂无信息
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