[发明专利]用于使用相关样本生成及高效统计模拟来计算时序良率及良率瓶颈的新颖方法在审
| 申请号： | 202080015783.4 | 申请日： | 2020-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN113474780A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | J·勒;W·柴;L·丁 | 申请（专利权）人： | 新思科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3315 | 分类号： | G06F30/3315;G06F30/3312 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 章蕾 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开用于确定参数时序良率及瓶颈的方法及设备的各种实施例，所述方法及设备通过设计中的集成电路芯片的共同时序弧考虑电路路径之间的相关性。时序弧延迟的蒙特卡罗样本经生成并用于计算时序良率且识别良率瓶颈。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 使用 相关 样本 生成 高效 统计 模拟 计算 时序 瓶颈 新颖 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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