[发明专利]用于分析微观颗粒的中红外扫描系统在审
| 申请号： | 202080015960.9 | 申请日： | 2020-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN113474636A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | C·R·莫恩;A·盖特勒;M·科尔 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G01N15/06 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 公开了用于分析样本中的颗粒、特别是塑料颗粒的设备和方法。所述方法包括：将所述样本(65)放置在具有可调谐MIR光扫描器(70)和可见光成像系统(80)的设备(60)中的可移动平台(66)上，所述平台在所述MIR光扫描器与所述可见光成像系统之间移动；提供所述样本的可见光图像；以及接收关于所述样本的待分析的区域的用户输入。然后将所述样本移动至所述MIR光扫描器，所述MIR光扫描器生成聚焦于样品上的一点的MIR光束并且测量从所述样品反射的光。然后通过相对于所述MIR光束移动所述样品来以第一MIR波长扫描所述样品，并且识别满足选择标准的粒子。然后自动测量所识别的粒子中的每一个粒子的MIR吸收光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 微观 颗粒 红外扫描 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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