[发明专利]具有通过鳍状桥接区耦合的垂直堆叠的纳米片的晶体管沟道在审

专利信息
申请号: 202080016969.1 申请日: 2020-02-24
公开(公告)号: CN113491014A 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 谢瑞龙;J.弗鲁吉尔;C.朴;E.诺瓦克;亓屹;程慷果;N.罗贝特 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王蕊瑞
地址: 美国纽*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的实施例涉及用于提供新颖的场效应晶体管(FET)架构的技术,该FET架构包括中心鳍状物区域和一个或多个垂直堆叠的纳米片。在本发明的非限制性实施例中,非平面沟道区被形成为具有第一半导体层(208)、第二半导体层(206)以及位于第一半导体层(208)与第二半导体层(206)之间的鳍状桥接层。形成所述非平面沟道区可以包括:在衬底(204)之上形成纳米片堆叠体;通过去除所述纳米片堆叠体的一部分来形成沟槽(502);以及在所述沟槽(502)中形成第三半导体层(602)。所述第一半导体层(208)、所述第二半导体层(206)和所述鳍状桥区的外表面限定所述非平面沟道区的有效沟道宽度。
搜索关键词: 具有 通过 鳍状桥接区 耦合 垂直 堆叠 纳米 晶体管 沟道
【主权项】:
暂无信息
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