[发明专利]用于光学测量的测量系统在审
| 申请号： | 202080018998.1 | 申请日： | 2020-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN113574345A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | L·托贝沙特;C·格鲁伯;T·维斯培特纳 | 申请（专利权）人： | 微-埃普西龙光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G01B21/04 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 亓云;顾嘉运 |
| 地址： | 德国兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于光学测量，特别是用于测量距离和/或位置和/或速度和/或颜色的测量系统，定义了至少一个外部固定点以及至少一个内部固定点，该外部固定点定义了外部坐标系或位于其中，该内部固定点定义了内部坐标系或位于其中。这两个坐标系相对彼此具有明确的位置，这意味着系统的调整或校准。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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