[发明专利]残留DC测定装置、残留DC测定方法及残留DC测定程序在审
| 申请号： | 202080019527.2 | 申请日： | 2020-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN113545035A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 西川宜弘 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | H04N17/04 | 分类号： | H04N17/04;G09G3/20;G09G3/3208;G09G3/36;G02F1/13;G02F1/133 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 日本国东京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的残留DC测定装置接受从显示装置出射的光并输出受光信号，基于在由显示装置显示闪烁测定用图像的过程中输出的受光信号，对显示装置的闪烁值进行测定并作为初始闪烁值保存至存储部，接下来，使显示装置以规定的显示时间显示规定的显示图像，如果经过了规定的显示时间，则再次使显示装置显示闪烁测定用图像，基于在闪烁测定用图像的显示中输出的受光信号对显示装置的闪烁值进行测定并作为事后闪烁值保存至存储部，通过存储部中保存的事后闪烁值和初始闪烁值的运算，计算闪烁变化量，作为表现残留DC的指标值。 | ||
| 搜索关键词： | 残留 dc 测定 装置 方法 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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