[发明专利]用于促进多种测试模式的测试访问端口架构在审

专利信息
申请号: 202080019593.X 申请日: 2020-02-05
公开(公告)号: CN113544650A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: M·R·斯皮卡 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G06F11/263 分类号: G06F11/263;G06F11/273;G11C29/56
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种系统包括测试模式寄存器、一组引脚和测试访问端口控制器。所述测试访问端口控制器通过根据第一引脚协议配置所述一组引脚来启动第一测试模式。所述测试访问端口控制器将第一引脚配置成接收基于第一协定的第一测试模式数据,并且将第二引脚配置成输出基于所述第一测试模式数据的第一测试结果数据。基于检测到存储在所述测试模式寄存器中的寄存器命令,所述测试访问端口控制器通过根据第二引脚协议配置所述一组引脚来启动第二测试模式。所述测试访问端口控制器将所述第一引脚配置成接收基于第二协定生成的第二测试模式数据,并且将所述第二引脚配置成输出基于所述第二测试模式数据的第二测试结果数据。
搜索关键词: 用于 促进 多种 测试 模式 访问 端口 架构
【主权项】:
暂无信息
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