[发明专利]准直器几何结构的剂量测定投影在审
| 申请号： | 202080022853.9 | 申请日： | 2020-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN113597326A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | T·伊科南;C·博伊兰;A·哈犹;P·希尔图南;J·考皮南;P·科可恩;V·佩塔加;M·T·卢萨南;S·P·西贾玛基;T·E·托斯蒂;E·屈塞拉;A·卡亚莱南 | 申请（专利权）人： | 瓦里安医疗系统国际股份公司 |
| 主分类号： | A61N5/10 | 分类号： | A61N5/10 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 张维 |
| 地址： | 瑞士斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种计算辐射剂量的方法包括准直器几何结构的剂量测定投影。方法包括限定准直设备的三维(3D)几何结构，三维几何结构限定被配置为允许辐射束穿过的孔，将准直设备沿辐射束投影到平面中的二维(2D)几何结构中，基于准直设备的3D几何结构来计算在邻近孔的位置处的准直设备的剂量测定不透明度值，以及基于在平面中所投影的2D几何结构并且使用在邻近孔的位置处的准直设备的剂量测定不透明度值来计算通过准直设备的辐射束的传送。 | ||
| 搜索关键词： | 准直器 几何 结构 剂量 测定 投影 | ||
【主权项】：
暂无信息
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