[发明专利]测距方法、测距装置以及程序在审
| 申请号： | 202080022948.0 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN113614566A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 能势悠吾;香山信三;小田川明弘;春日繁孝;簿田学 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01S17/10;G01S17/894;G01C3/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王亚爱 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开所涉及的测距方法包含如下工序：在对物体照射背景光的环境下对该背景光的照度进行测光(步骤S300)；基于该背景光的照度来设定测距范围(步骤S310)；基于所设定的测距范围来设定包含分别具有APD(Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管)的多个像素在内的摄像部的摄像条件以及使光源出射光的出射条件(步骤S320)；和通过基于所设定的摄像条件以及出射条件控制摄像部以及光源来进行与该物体的距离的测定(步骤S330)。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 方法 装置 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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