[发明专利]用于稻米颗粒识别的工业化系统及其方法在审
申请号: | 202080023318.5 | 申请日: | 2020-03-19 |
公开(公告)号: | CN113826109A | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 杰罗姆·特雷布;卡利斯特·马约拉兹;多米尼克·热努;马蒂亚斯·格雷贝尔;萨拉·拉森 | 申请(专利权)人: | 布勒有限公司 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06K9/62 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 高岩;乔图 |
地址: | 瑞士乌*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提出了一种用于稻米颗粒识别的工业化系统(1)和方法。由用户(5)拍摄光学图像(123)并且将该光学图像传输至数字平台(11),其中,系统(1)分割光学图像(123)并且从图像(123)提取和/或测量描述颗粒(4)的不同方面的适当颗粒特征(41)。图像(123)由系统(1)处理,该系统包括选择器(1122),该选择器选择不同的机器学习结构(11211,......,1121i)、将不同的机器学习结构(11211,......,1121i)应用于所提取的特征(41)以进行稻米颗粒(4)识别,并且通过随机采样过程选择所应用的机器学习结构(11211,...,1121i)中的最佳机器学习结构。通过由阈值触发器(1123)基于包括的混淆矩阵(11221)改变适当的阈值(11231)来进一步优化所选择的应用的机器学习结构(11211,...,11211)中最好的。主动学习结构(113)基于包括针对经分类的稻米颗粒的真正例(TP)、假负例(FN)、假正例(FP)和真负例(TN)的值的混淆矩阵(11221),向用户或人类专家(5)提供反馈回路,其中,基于反馈回路(1132)的反馈参数对系统(1)进行重新训练。 | ||
搜索关键词: | 用于 稻米 颗粒 识别 工业化 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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